如何测量4401D？ 4401D是一种特定的半导体材料型号，其测量方法通常涉及对其电阻率、厚度、晶格结构等关键参数的测定，以下是一个详细的测量指南：一、电阻率的测量1、四探针法：这是测量半导体电阻率的常用方法之一，尤其适用于薄层或薄膜样品，通过在样品表面布置四个探针（两个作为电流源，两个作为电压测量端），施加恒定电流并测...
