IXFH26N50的内阻怎么测 1、直流阻抗测量法四端法：在芯片的源极和漏极之间施加已知电压，测量源极和地之间或漏极和地之间的电流，这种方法可以较为准确地测量出芯片在不同电压下的内阻特性，但需要精确的电流和电压测量设备，两点法：通过测量芯片两端的电压降和通过芯片的电流，根据欧姆定律计算出内阻，这种方法相对简单，但在测量精度上可能稍...
