如何有效测量Top246yn的性能好坏? 在测量和判断top246yn芯片好坏的过程中,可以采用以下几种方法:1、离线检测正反向电阻测试:使用万用表测量各引脚对地之间的正反向电阻值,正常情况下,这些值应该与好的IC的测量结果相近,如果发现某个引脚的电阻值异常,可能是该引脚对应的电路部分存在问题,直流参数特性测试:通过专用的IC测试机台记录器...