怎么测量k15h1203的好坏

摘要： 测量IGBT的好坏是一个涉及多个参数和步骤的过程，以下是对英飞凌K15H1203（IKW15N120H3）好坏的测量方法及相关说明：一、外观检查1、封装完整性：检查器件的封装是否完...

测量IGBT的好坏是一个涉及多个参数和步骤的过程，以下是对英飞凌K15H1203（IKW15N120H3）好坏的测量方法及相关说明：

一、外观检查

1、封装完整性：检查器件的封装是否完整，有无裂缝、破损或引脚弯曲等问题，若封装有问题，可能会影响器件的性能和可靠性。

2、引脚状态：查看引脚是否有氧化、腐蚀、变形等情况，确保引脚的清洁和良好的接触性。

二、电气性能测试

1、极间电阻测量：使用万用表的二极管档分别测量集电极（C）、发射极（E）和栅极（G）之间的正反向电阻，正常情况下，正向电阻应有一定的阻值，且通常在几百欧姆到几千欧姆之间，反向电阻应接近无穷大，若测得的正反向电阻值与正常范围相差较大，则可能表明器件存在短路或漏电等问题。

2、饱和压降测试：在一定的集电极电流下，测量IGBT的饱和压降VCE(sat)，将集电极和发射极接入电路，通过改变栅极电压来控制IGBT的通断，当IGBT导通时，测量集电极和发射极之间的电压，如果饱和压降过大，超出了规格书所规定的范围，可能是器件性能不良或存在故障。

3、阈值电压测试：阈值电压是使IGBT从截止状态转变为导通状态所需的最小栅极电压，通过逐渐增加栅极电压，同时监测集电极电流的变化，当集电极电流开始明显增大时，此时的栅极电压即为阈值电压，如果阈值电压偏离了规格书规定的范围，可能会影响IGBT的正常开关特性。

4、漏电流测试：将IGBT的集电极和发射极连接在一起，然后在栅极和集电极之间施加一定的反向电压，测量通过IGBT的漏电流，正常情况下，漏电流应该很小，如果在规定的漏电流范围内，则说明器件的绝缘性能良好；否则，可能存在漏电问题。

三、动态特性测试

1、开关时间测试：使用示波器等设备测量IGBT的开通时间ton和关断时间toff，这些参数对于评估IGBT在高频应用中的性能非常重要，如果开关时间过长，可能会导致开关损耗增加、温升过高以及电磁干扰等问题。

2、短路承受能力测试：模拟IGBT在实际应用中可能发生的短路情况，观察其能否在短时间内承受短路电流而不损坏，一般在规格书中会规定IGBT能够承受的最大短路电流和持续时间，通过实际测试来验证其是否符合要求。

通过对英飞凌K15H1203进行上述各项测试，可以较为全面地了解其性能好坏和质量状况，需要注意的是，在进行这些测试时，应遵循相关的操作规范和安全注意事项，以确保测试的准确性和安全性。