如何判断可控硅是否损坏？

摘要： 判断可控硅（Silicon Controlled Rectifier，简称SCR）是否损坏，可以通过以下几种方法：1、万用表测量极间电阻测量：使用万用表的R×1k或R×10k挡位，...

判断可控硅（Silicon Controlled Rectifier，简称SCR）是否损坏，可以通过以下几种方法：

1、万用表测量

极间电阻测量：使用万用表的R×1k或R×10k挡位，分别测量阴极与阳极之间的正反向电阻，如果两个方向的阻值均很大，说明可控硅的三个PN结完好；如果阻值很低或近于无穷大，则表明可控硅已经击穿短路或已经开路。

控制极与阴极电阻测量：用万用表的R×1k或R×10k挡测阳极与控制极之间的电阻，正反向测量阻值均应几百千欧以上，若电阻值很小，表明可控硅击穿短路。

触发能力检测：对于普通的小功率晶闸管，可用万用表R×1电平测量，测量时黑色表笔接阳极A，红色表笔接阴极K，此时表针不动，电阻值显示为无穷大，然后用镊子或导线将晶闸管的阳极A和栅极G短接，相当于给G栅极施加了一个正向触发电压，如果阻值为几欧到几十欧姆（具体电阻值会根据晶闸管的型号而有所不同），表明晶闸管由于正向触发而导通，然后断开电极A和栅极G（电极A和K上的探针不动，只有G门的触发电压被切断），如果表针指示的数值还在几欧到几十欧的位置，说明晶闸管的触发性能良好。

2、外观检查

观察可控硅的外观是否有烧焦、破裂、引脚断裂等明显的物理损伤，如果有这些损伤，很可能可控硅已经损坏。

3、电路测试

在实际应用电路中，可以将可控硅接入电路，通过给控制极输入触发信号，检查可控硅是否能正常导通和关断，如果不能正常导通或关断，或者出现异常发热等情况，可能是可控硅损坏。

以下是一些相关的FAQs：

1、如何判断可控硅的极性？

螺栓型普通晶闸管的螺栓端为阳极A，较细的引线端为栅极G，另一端则为阴极K，扁平型晶闸管的引线端为栅极G，平面端为阳极A，另一端为阴极K，金属封装式晶闸管的外壳为阳极A，其阴极引线比阳极引线略长些，中间的引出线为栅极G。

2、可控硅的主要参数有哪些？

主要参数包括额定正向平均电流、正向阻断峰值电压、反向阻断峰值电压、控制极触发电流、控制极触发电压等，选用可控硅时，需根据实际电路的工作条件来选择合适参数的可控硅。

判断可控硅是否损坏需要综合运用多种方法，包括万用表测量、外观检查以及电路测试等，了解可控硅的极性和主要参数也有助于更准确地判断其好坏。