如何判断tny285dg的好坏？

摘要： TNY285DG 是一款由 Power Integrations 公司生产的 TinySwitch 系列离线式开关电源芯片，具有多种保护功能和高集成度，以下是一些常见的测量 TNY...

TNY285DG 是一款由 Power Integrations 公司生产的 TinySwitch 系列离线式开关电源芯片，具有多种保护功能和高集成度，以下是一些常见的测量 TNY285DG 好坏的方法：

外观检查

封装完整性：查看芯片的封装是否有破损、裂缝、引脚弯曲或折断等情况，如果封装有明显损坏，可能会影响芯片的性能和使用寿命。

引脚状态：检查芯片的引脚是否有氧化、腐蚀、变形等问题，确保引脚的金属部分光亮、无杂质。

电阻测量

正向电阻测量：将数字万用表置于二极管档位，红表笔接芯片的漏极（D），黑表笔接源极（S），正常情况下，硅管的正向压降应在 600mv700mv 之间，锗管的正向压降在 200mv300mv 之间，如果测得的正向电阻值偏离正常范围较大，可能表示芯片内部存在故障。

反向电阻测量：交换红黑表笔的位置，再次测量漏极（D）和源极（S）之间的电阻，此时应显示为无穷大或接近无穷大，如果反向电阻值过小，说明芯片可能存在漏电或击穿等问题。

电压测量

输入电压测量：给芯片提供正常的工作电压，使用万用表直流电压档测量芯片的输入引脚电压，确保输入电压在芯片规定的工作范围内，如果输入电压异常，可能会导致芯片无法正常工作或损坏。

输出电压测量：在芯片正常工作的情况下，测量其输出引脚的电压，看是否与芯片规格书中标注的输出电压相符，如果输出电压偏差过大，可能是芯片内部的电路出现了故障。

在线功能测试

搭建测试电路：按照芯片的典型应用电路，搭建一个简单的测试电路，包括输入电源、变压器、整流二极管、滤波电容等基本元件。

通电测试：给测试电路通电，观察芯片是否正常启动和工作，可以通过测量芯片各引脚的电压波形来判断其工作状态是否正常，测量 MOS 管的驱动信号波形是否符合要求，检测光耦反馈电路是否正常工作等。

热保护功能测试

模拟过温条件：使用加热设备或温度控制装置，使芯片的温度逐渐升高，接近其过热保护阈值，同时监测芯片的输出情况，当温度达到过热保护温度时，芯片应能自动停止工作或采取相应的保护措施，如降低输出功率、进入间歇工作模式等。

短路保护功能测试

模拟输出短路：在芯片的输出端人为制造一个短路故障，然后观察芯片的反应，正常情况下，芯片应能迅速检测到输出短路，并立即停止工作或进入保护状态，以避免芯片因过流而损坏。

开路保护功能测试

模拟输入开路：断开芯片的输入电源，检查芯片是否能正常检测到输入开路故障，并做出相应的保护动作，如关闭输出等。