
如何测试6脚光耦的性能是否正常?
一、外观及物理检查
1、步骤:查看光耦封装是否有破裂、变形、污渍或烧蚀痕迹,确保其表面无明显物理损伤。

2、原因:这些外观问题可能导致光耦内部结构损坏,影响其正常工作。
二、电阻测量
1、步骤
输入侧LED的测量:将万用表置于二极管档位,分别测量光耦输入端的正向导通压降(一般正向有压降,不同型号光耦的正常压降有所不同)和反向电阻(应为无穷大)。
输出侧光敏元件的测量:用万用表的电阻档测量输出侧光敏元件基极到发射极(BE)以及集电极到发射极(CE)的电阻,正常情况下,BE间的暗电阻较高,且光照时由于光电效应,CE间会呈现一定的集电极发射极饱和压降。
2、原因:通过测量电阻可以初步判断光耦内部的发光二极管和光敏元件是否正常,如果电阻值与正常范围相差较大,可能表示光耦存在故障。
三、动态功能测试
1、步骤
输入侧测试:给光耦的输入端接入低电压(如以4N35为例,可接入6V左右),串入保护电阻,用万用表测量输入端的电压,判断发光二极管是否正常导通。
输出侧测试:在输入端接入低电压后,用万用表测量输出端另一侧的电阻值,断开前级电源,电阻值应为无穷大;接通前级电源,电阻值急剧变小则代表光耦是好的。

2、原因:动态测试能够检测光耦在实际工作状态下的性能,判断其是否能正常传输信号。
四、在线测试(针对已安装在电路板上的光耦)
1、步骤:对于已经安装在电路板上的光耦,可以在不拆卸的情况下进行在线测试,但需注意周围电路的影响,可通过测量输出端在正常工作状态下的电压或电流,或者改变输入信号并观察输出反应来间接评估光耦的工作状况。
2、原因:这种方法可以在不破坏电路完整性的前提下,快速判断光耦在实际应用中的性能。
五、比较法
1、步骤:将待测光耦与已知良好的同型号光耦对比测量上述电阻值,如果两者之间的电阻差异显著,则可能表明待测光耦存在问题。
2、原因:通过与已知良好的光耦进行对比,可以更准确地判断待测光耦的性能是否异常。
六、光电效应判断法(以PC111光耦合器为例)
1、步骤:将万用表置于R×1k电阻挡,两表笔分别接在光耦的输出端4、5脚;然后用一节1.5V的电池与一只50~100Ω的电阻串接后,电池的正极端接PC111的1脚,负极端碰接2脚,或者正极端碰接1脚,负极端接2脚,这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况,如果指针摆动,说明光耦是好的,如果不摆动,则说明光耦已损坏。

2、原因:该方法利用了光耦的光电效应原理,通过观察输出端在输入光信号作用下的反应来判断光耦的好坏。
6脚光耦的测试需要综合运用多种方法,包括外观检查、电阻测量、动态功能测试、在线测试、比较法以及光电效应判断法等,这些方法可以帮助准确地判断光耦的性能状态,及时发现并排除故障,确保电子设备的正常运行。
作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/21937.html发布于 2025-01-25 18:30:43
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