
如何检测MCR226光耦的性能优劣?
MCR226是一款单向导通可控硅,其好坏的测量可以通过以下几种方法:

1、电阻值测试:使用万用表的电阻档位进行测量,正常情况下,阳极(A)和阴极(K)之间的正、反向电阻值均应接近无穷大;控制极(G)与阴极(K)之间的正向电阻值应在十几欧姆至百欧姆之间,反向电阻值应接近无穷大。
2、触发能力测试:将万用表置于电阻档的“R×1”或“R×10”档位,红表笔接阴极(K),黑表笔接阳极(A),此时表针应指示在无穷大位置,然后用导线瞬间短接阳极(A)和控制极(G),如果表针发生较大偏转,表明晶闸管正常导通,说明该晶闸管是好的;如果表针不发生偏转或偏转角度很小,则说明晶闸管的控制极已损坏或断路。
3、在线检测:如果是在电路板上检测,需要先断开待测电路板上的电源,确保万用表内部电压不得大于6V,然后按照上述电阻值测试和触发能力测试的方法进行检测。
以下是两个常见问题及解答:
1、如何判断MCR226是否击穿?:如果在电阻值测试中,阳极(A)和阴极(K)之间的正、反向电阻值远小于正常值,接近于零或明显偏小,那么很可能是MCR226已经击穿损坏。
2、MCR226的触发电流一般是多少?:MCR226的触发电流一般在微安级,通常为几十到几百微安,具体的触发电流还会受到温度等因素的影响,在不同的环境条件下可能会有所变化。
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作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/20767.html发布于 2025-01-23 15:27:41
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