如何判断可控硅是否已经被击穿？

摘要： 检查可控硅是否被击穿是电子工程师在进行电路维护和故障排除时必须掌握的技能，可控硅（SCR）是一种重要的半导体器件，广泛应用于电力电子领域，由于其工作环境复杂多变，可控硅可能会因过压...

检查可控硅是否被击穿是电子工程师在进行电路维护和故障排除时必须掌握的技能，可控硅（SCR）是一种重要的半导体器件，广泛应用于电力电子领域，由于其工作环境复杂多变，可控硅可能会因过压、过流或过热等原因被击穿，以下是详细的检查方法和步骤：

一、使用万用表检测可控硅

1、准备工作

万用表

可控硅元件

2、单向可控硅的检测

将万用表调至电阻R×1K挡或R×10K挡。

测量阴极（K）与阳极（A）之间的正反向电阻，两个阻值均应很大，如果测得的阻值很低或接近无穷大，说明可控硅已经击穿短路或开路，此可控硅不能使用。

测量控制极（G）与阴极（K）之间的正反向电阻，正常情况应为几百欧姆以上，若电阻值很小，表明可控硅击穿短路。

用R×1挡测量，黑表笔接阳极（A），红表笔接阴极（K），此时万用表指针应不动，用短线瞬间短接阳极（A）和控制极（G），此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右，如阳极接黑表笔，阴极接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。

3、双向可控硅的检测

将万用表调至电阻R×1Ω挡。

用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大，若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极（A1）和控制极（G），另一空脚即为第二阳极（A2）。

确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极（A1），红表笔所接引脚为控制极（G）。

将黑表笔接已确定的第二阳极（A2），红表笔接第一阳极（A1），此时万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大，再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右，随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右，互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极（A2），黑表笔接第一阳极（A1），同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大，用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右，随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右，符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。

二、其他检测方法

1、观察法

观察可控硅外观是否有明显损坏，如裂纹、烧焦等现象，如果有，则很可能已经击穿。

2、替换法

如果怀疑某个可控硅有问题，可以尝试用一个已知良好的可控硅替换它，看电路是否能恢复正常工作。

三、预防措施

1、安装RC吸收回路

在可控硅两端接入RC吸收回路，以避免各种无规则的干扰脉冲所引起的瞬间过压。

2、确保散热良好

确保可控硅的辅助散热装置工作良好，避免过热导致的击穿，对于采用水冷方式工作的，要检查进水温度和流量；对于风冷方式工作的，要检查风扇转数和环境温度。

四、相关问答FAQs

Q1：如何判断可控硅是否击穿？

A1：通过使用万用表测量可控硅各引脚间的电阻值来判断，如果阴极与阳极间或控制极与阴极间的电阻值异常低或高，说明可控硅可能已经击穿，具体步骤如上所述。

Q2：如果发现可控硅击穿了，应该怎么办？

A2：如果确认可控硅已经击穿，首先应停止使用该设备以防止进一步损坏，然后更换新的可控硅，并检查电路中是否存在导致击穿的原因（如过压、过流等），并进行相应的修复或改进，建议对整个电路进行全面检查和维护以确保安全运行。

通过上述步骤可以有效地检查可控硅是否被击穿并采取相应的措施进行修复或更换，在实际操作中还需要结合具体情况灵活运用这些方法以确保电路的安全稳定运行。