如何测量CS2N60的值?
测量CS2N60(一种MOSFET场效应管)的步骤和注意事项如下:
1、准备工作
工具准备:需要一台数字万用表,并确保其功能正常。
放电处理:由于MOSFET内部可能存在电荷,建议先将三个引脚短路进行放电处理。
2、确定引脚
识别D极(漏极):对于TO252、TO220等封装的MOSFET,散热片通常与D极相连,使用万用表的二极管档,将黑表笔接触散热片,红表笔分别接触另外两个引脚,如果显示为硅二极管的正向压降,则该引脚为S极(源极),剩下的引脚即为G极(栅极)。
识别S极和G极:找到D极后,将黑表笔接D极,红表笔分别接触其他两个引脚,若显示读数为一个硅二极管的正向压降,那么该引脚即为S极,剩下的那个引脚即为G极。
3、测量好坏
正向测量:将万用表量程开关调至二极管档,红黑表笔分别接触DS两极,好的管子应显示“OL”(溢出),调换红黑表笔,再次测量DS两极,万用表应显示一个硅二极管的正向压降。
反向测量:若MOSFET内部DS两极之间的寄生二极管击穿损坏,用二极管档测量时,万用表显示的读数接近于零。
电容充电:在确认DS两极良好之后,用二极管档给MOSFET的栅源两极之间的电容充电,对于N沟道MOSFET,红表笔接G极,黑表笔接S极。
电阻测量:充电后,用电阻档实测DS两极之间的正向电阻和反向电阻,一个好的N沟道MOSFET的正向电阻应在155.4Ω左右,反向电阻在67.2Ω左右。
4、参数说明
开启电压VT:使得源极S和漏极D之间开始形成导电沟道所需的栅极电压。
直流输入电阻RGS:在栅源极之间加的电压与栅极电流之比。
漏源击穿电压BVDS:在VGS=0的条件下,使ID开始剧增时的VDS。
栅源击穿电压BVGS:在增加栅源电压过程中,使栅极电流IG由零开始剧增时的VGS。
低频跨导gm:在VDS为某一固定数值的条件下,漏极电流的微变量和引起这个变化的栅源电压微变量之比。
导通电阻RON:漏极特性某一点切线的斜率的倒数。
极间电容:包括栅源电容CGS、栅漏电容CGD和漏源电容CDS。
低频噪声系数NF:表征放大器在没有信号输入时产生的噪声。
以下是关于CS2N60的一些常见问题及其解答:
Q1: 如何判断CS2N60的好坏?
A1: 通过数字万用表的二极管档和电阻档进行测量,使用二极管档测量DS两极的正向和反向电压,然后使用电阻档测量DS两极的正向和反向电阻,根据测量结果,可以判断CS2N60是否损坏。
Q2: CS2N60的主要参数有哪些?
A2: CS2N60的主要参数包括开启电压VT、直流输入电阻RGS、漏源击穿电压BVDS、栅源击穿电压BVGS、低频跨导gm、导通电阻RON、极间电容以及低频噪声系数NF。
通过上述步骤和注意事项,可以有效地测量CS2N60的好坏,并了解其主要参数。
作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/18280.html发布于 2025-01-19 04:41:25
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