
如何检测LM358M运算放大器的好坏?
LM358M芯片是一种广泛应用于各种电子电路中的双运算放大器,判断其是否损坏需要通过一系列的测试方法,包括功能测试、电流测试、输出范围测试、频率响应测试和温度测试等,以下是具体的判断步骤:

1、功能测试
输入与输出信号测量:将已知电压的信号输入到LM358芯片中,然后测量输出信号,如果输出信号与预期不符,则芯片可能已损坏。
替代法:用一个新的LM358芯片替换原来的芯片,如果电路恢复正常工作,那么很可能是原来的芯片出现了故障。
2、电流测试
将输入信号设为0,并测量输出的电流,如果测量出的输出电流远高于额定值,则可能存在电流泄漏问题。
3、输出范围测试
输入不同范围的电压信号,然后测量输出电压的变化,如果输出信号不能正常跟随输入信号的变化,并且超出了规格书中给出的额定范围,则芯片可能已损坏。
4、频率响应测试

输入不同频率的信号,并测量输出信号的幅频特性,如果输出信号的增益与输入信号的频率变化不符合预期,则芯片可能已损坏。
5、温度测试
在不同温度下进行功能和性能测试,如果芯片在高温环境下失效,或其性能受温度影响明显较大,可能表明芯片已损坏。
6、外观检查
观察LM358芯片是否有明显的破损或烧焦的痕迹,如果芯片有明显的物理损坏,如裂缝或黑色烧焦,那么芯片很可能已经损坏。
7、触摸测试
小心地在通电的状态下触摸LM358芯片的外壳,感受其温度是否异常,如果芯片比其他元件热得多,这可能是个坏的迹象,意味着它可能在短路或者超出规格的运行。
8、电源电压检查

使用万用表检查LM358芯片的电源引脚是否接收到正确的电压,如果电压太高或太低,芯片可能不能正常工作。
9、直流电阻测量
将万用表的测量电极分别连接到LM358的输入脚和输出脚对地或者电源脚对地,观察电阻大小是否与正常值相符,如果电阻值与正常值相差0.5V以上,那么LM358一定是损坏的。
通过上述方法可以较为全面地判断LM358M芯片的好坏,需要注意的是,在进行这些测试时,应确保操作环境安全,避免因操作不当导致进一步的损坏。
作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/17969.html发布于 2025-01-18 15:16:38
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