如何测试AD526的好坏？

摘要： 在测试AD526芯片的好坏时，可以采取多种方法来确保准确性和全面性，以下是详细的测试步骤：1、供电检查测量供电电压：使用万用表测量AD526芯片的供电端对地电压是否正常，如果供电电...

在测试AD526芯片的好坏时，可以采取多种方法来确保准确性和全面性，以下是详细的测试步骤：

1、供电检查

测量供电电压：使用万用表测量AD526芯片的供电端对地电压是否正常，如果供电电压异常，可能是芯片损坏或外围电路故障。

检查供电引脚：断开供电端，单独测量供电是否正常，以排除外围电路的影响。

2、电阻测量

直流电阻法：断电情况下，测量各引脚对应于接地脚间的正反向电阻值，并与完好集成电路进行比较，如果发现某个引脚的电阻值异常，可能表明该引脚存在问题。

在线直流电阻普测法：通过测试外围元器件的好坏来判定集成电路是否损坏，这种方法适用于没有详细技术资料的情况。

3、功能测试

增益误差测试：根据AD526的技术参数，测量不同增益设置下的输出信号，检查增益误差是否在允许范围内，对于增益为16的设置，增益误差应小于0.001%。

非线性度测试：测量低非线性度（±0.005% FSR）是否符合规格要求，这可以通过输入已知信号并测量输出信号来完成。

失调电压和漂移测试：检查失调电压（最大0.5 mV）和失调电压漂移（3 µV/°C）是否在规定范围内。

4、温度测试

温度范围测试：在不同温度条件下（如55°C至+125°C），测量AD526的性能变化，特别关注在极端温度下的工作稳定性。

温度漂移测试：观察在不同温度下失调电压的变化，确保其在允许范围内。

5、快速建立时间测试

建立时间测量：在增益为16的情况下，测量10 V信号变化的建立时间（4.5 µs）和增益变化（5.6 µs），这些数据有助于评估芯片的响应速度。

6、数字接口测试

TTL兼容性测试：验证TTL兼容型数字输入的工作情况，确保数字控制信号能够正确传递。

级联模式测试：测试双芯片级联模式下的功能，确保两片AD526能够实现1至256的二进制增益。

7、直流精度测试

直流精度测量：在增益为16的情况下，测量失调电压和直流精度，失调电压应在0.5 mV以内，直流精度应优于±0.0005%。

8、交流性能测试

小信号带宽测试：在增益为16时，测量小信号带宽（350 kHz），这有助于评估芯片在高频信号下的性能。

快速建立时间测试：在增益为16时，测量10 V信号变化的建立时间（4.5 µs）和增益变化（5.6 µs）。

通过以上详细的测试步骤，可以全面评估AD526芯片的性能和好坏，每个步骤都有其特定的测试内容和标准，确保测试结果的准确性和可靠性。