
如何进行直流扫描分析?
直流扫描分析是一种用于研究电路在不同直流电压、电流和温度条件下的节点电压和电流变化的仿真技术,以下是详细的步骤和方法:
一、实验目的

直流扫描分析的主要目的是掌握各种设置方法,以便在不同的直流条件下对电路进行仿真分析,通过这种方法,可以验证二极管、晶体管等元器件的特性曲线,如VI特性曲线和输出特性曲线。
1. 验证二极管的VI特性曲线
1、绘制电路图:根据实验要求绘制电路图,包括电压源Vi和二极管D1N4002。
2、设置主扫描变量:将电压源Vi设为主扫描变量,从110V开始扫描到10V,每隔0.01V记录一点。
3、查看电流曲线:运行仿真后,查看二极管流过的电流曲线I(D1)。
4、调整坐标轴:为了更清晰地观察门坎电压值,调整X轴和Y轴的坐标范围,例如将X轴设为02V,Y轴设为05A。
2. 验证晶体三极管的VceIb输出特性曲线
1、绘制电路图:根据实验要求绘制电路图,包括电压源V1、电流源I1和晶体三极管Q1(型号2N2222)。

2、设置主扫描参数:将电压源V1设为主扫描变量,从0V开始扫描到4V,每隔0.01V记录一点。
3、设置副扫描参数:将电流源I1设为副扫描变量,从0A开始扫描到0.5mA,每隔0.1mA记录一点。
4、查看集电极电流:运行仿真后,查看集电极电流IC(Q1)的变化情况。
3. 共射极放大电路的温度特性分析
1、绘制电路图:绘制共射极放大电路,并设置BJT的型号为2N3904,放大系数B=50。
2、设置直流工作点分析:进行直流工作点分析,得到静态工作点IB、IC和VCE的值。
3、设置温度扫描:使用DC Sweep对温度进行30℃到+70℃的线性扫描。
4、查看温度变化曲线:在Probe窗口中得到IC随温度变化的曲线,分析集电极电流的变化范围。
三、具体操作步骤

1. Multisim软件中的操作步骤
1、选择仿真菜单:单击【仿真】>选择【Analyses and simulation(H)】。
2、设置直流扫描:单击【直流扫描】>单击【分析参数】>输入【源:V2】>输入【起始值:0】>输入【停止值:2】>输入【增量:0.5】。
3、指定输出:单击【输出】>单击【V(1)】>单击【添加】。
4、运行分析:单击【Run】,得到V(1)与V2的关系图。
2. ngspice中的操作步骤
1、描述独立电流源:使用语句IYYYYYYY N+ N <<DC> DC/TRAN VALUE>:
来描述独立电流源,其中IYYYYYY是电流源的名称,N+和N是电流源的正负节点。
2、描述双极型晶体管:使用语句QXXXXXXX nc nb ne <ns> <tj> mname <area=val> <areac=val>
来描述双极型晶体管,其中Q是表示BJT的首字母。
3、设置模型参数:通过.model指令卡设置BJT的模型参数,例如.model QMOD1 NPN
或.model QMOD3 PNP level=2
。
4、进行直流扫描分析:在Edit Simulation Cmd界面的DC Sweep选项卡设置.dc命令的内容,例如.dc V1 0 4 0.01
。
通过上述步骤,可以在Multisim和ngspice中进行直流扫描分析,验证不同元器件的特性曲线和温度特性,这些步骤不仅适用于二极管和晶体管,也可以应用于其他元器件的分析。
作者:豆面本文地址:https://www.jerry.net.cn/articals/13450.html发布于 2025-01-09 03:42:59
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