如何测量F6456的好坏？

摘要： STR-F6456是一种常用的彩电电源开关厚膜集成电路，由日本三肯公司研制，其功率输出主要由场效应管（MOS FET）担当，场效应管包括栅极（Gate-G）、源极（Source-S...

STRF6456是一种常用的彩电电源开关厚膜集成电路，由日本三肯公司研制，其功率输出主要由场效应管（MOS FET）担当，场效应管包括栅极（GateG）、源极（SourceS）和漏极（DrainD），其中漏极相当于集电极，为了确保STRF6456的正常工作，需要对其进行详细的测量和评估，以下是关于如何测量STRF6456好坏的具体方法：

1、外观检查

首先进行外观检查，确保STRF6456没有明显的物理损坏，如裂纹、烧毁痕迹或引脚弯曲等，如果发现有明显的物理损坏，可能需要更换该器件。

2、使用万用表进行初步测试

电阻档测试：将万用表调至R×1k档，测量各引脚之间的电阻值，正常情况下，各引脚间的电阻值应符合STRF6456的数据手册中的规范，栅极与源极之间、漏极与源极之间的电阻值应在特定范围内。

二极管档测试：使用万用表的二极管档，分别测量各引脚对地的电压降，正常情况下，各引脚对地的电压降应在合理范围内，不应出现短路或开路现象。

3、电容测量

小电容检测：对于10pF以下的小电容，可以使用万用表的R×10k档进行检测，将两表笔分别接电容的两个引脚，阻值应为无穷大，如果测出阻值为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。

中等电容检测：对于10pF～0.01μF的固定电容器，可以使用万用表的R×1k档进行检测，通过观察万用表指针的摆动情况，判断电容的充电现象，从而判断其好坏。

大电容检测：对于0.01μF以上的固定电容，可以直接使用万用表的R×10k档进行测试，通过观察指针向右摆动的幅度大小，可以估计出电容器的容量。

4、场效应管测试

栅极与源极测试：测量栅极与源极之间的电阻值，正常情况下应为高阻值，如果测得阻值较低，可能存在栅极与源极之间的短路问题。

漏极与源极测试：测量漏极与源极之间的电阻值，正常情况下也应为高阻值，如果测得阻值较低，可能存在漏极与源极之间的短路问题。

5、通电测试

在确认STRF6456外观无损坏且初步测试正常后，可以进行通电测试，将STRF6456接入电路中，使用示波器或万用表测量各关键节点的电压和波形，确保其工作在正常范围内。

6、功能测试

在通电测试的基础上，进一步进行功能测试，可以通过调整输入信号，观察STRF6456的输出响应，确保其在不同工作状态下都能正常工作。

7、温度测试

在长时间工作后，测量STRF6456的温度，如果温度过高，可能表明器件存在过热问题，需要进一步检查散热情况或考虑更换器件。

8、数据对比

将测量得到的数据与STRF6456的数据手册中的参数进行对比，确保所有参数都在正常范围内，如果有参数不符合要求，需要进一步分析原因并采取相应措施。

通过以上步骤，可以全面评估STRF6456的好坏，如果在任何一个步骤中发现异常，都需要进一步分析原因并采取相应的维修措施。